テスト技術

開発時の特性評価から量産時の品質保証までトータルにサポート致します。テスト環境を自社で構成・自動化しており、フレキシブルなRFテスティングをご提供致します。

無線に関するテスト技術

衛星放送用の低雑音HEMT、基地局用の高出力FET、さらに、無線LAN用のスィッチを高スループット、かつ、高品質なテストについて、長年の経験と実績を有します。

シールドルーム内部
シールドルーム内部
20GHz帯LNFETテストシステム・Sパラメータテスター、ハンドラ・専用RFテストフィクスチャー
20GHz帯LNFETテストシステム
 ・Sパラメータテスター、ハンドラ
 ・専用RFテストフィクスチャー

測定実績

スマートフォン、ナビゲーションシステム、衛星放送、等、ワイヤレス通信を主体に各種アプリケーションへの対応実績があります。多様なニーズに応じて、テスター内製化、ワイヤレス通信用半導体の特性を左右するテストフィクスチャーの自社設計を行うと共に、保有するノウハウを基にトータルなテストソリューションを提供します。

測定実績

テスタ内製化

市販のアナログ対応テスター、および、生産仕様に応じた「フレキシブル」、「低コスト」なラック&スタックテスタを自社開発しています。市販テスタは、HP84000(Agilent)、TS-1000/6900/6900S(横河電機)、EM(東京精密)、VX-4000(テクノローグ)、SM-2106B(国洋電機)を有します。さらに、周辺ユニット内製化(RFスィッチBOX、信号分波器等)、RF測定器の自動制御、RFテストの多数同時測定による高速化等により、高スループット、かつ、高品質なテストを実現します。
ID-250 RFテスター
ID-250 RFテスター
RFスイッチBOX
RFスイッチBOX

治具設計

電磁界シミュレータ等を活用して高性能なテストフィクスチャーを自社開発しています。
150μmの狭ピッチWLCSP用RFプローブカードや、20GHz帯RF測定用テストフィクスチャーなどの開発実績が有ります。
WLCSP用RFプローブカード
WLCSP用
RFプローブカード
20GHz帯LNFET用RFテストフィクスチャー
20GHz帯LNFET用
RFテストフィクスチャー
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RF半導体後工程受託