高信頼度製品評価

人工衛星など宇宙開発向け製品の製造等に使用される「高信頼度製品用試験/評価」を各種取り揃えております。弊社は、人工衛星(探査機)・補給機(HTV)等に使用される高信頼度製品の組立・試験/評価を長年(約40年)実施し、高いご評価を頂いております。小惑星から物質を持ち帰った探査機においては、当社もその組立生産、および、試験評価において、その一助を担ってきました。その試験評価技術を用いて皆様にご満足頂けるサービスをご提供いたします。尚、組立から試験評価まで一貫したサービスも提供しております。

評価項目一覧

評価名 試験概要 対応規格
各種スクリーニング それぞれの製品、条件にあわせたスクリーニングを実施します。
液相熱衝撃試験 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。 MIL-STD-202/750/883 そのほかの規格にも対応いたします。
気相熱衝撃試験 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
PIND デバイスキャビティ内部の遊離微粒子を検出します。
気密性試験 内部キャビティをもつデバイスの封止効果を評価します。
低温保存試験 保存や稼動における耐久性を温度を下げて評価します。
高低温特性評価 高低温雰囲気における製品の電気的特性の変動を評価します。
衝撃試験 デバイスの運搬、使用等における衝撃に対する耐性を試験します。
振動試験 振動によって生じるデバイスの電気的雑音量を測定します。

高信頼度製品用 試験/評価

液相熱衝撃試験

目的 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
媒体に液体を使用します。
方法 使用媒体:水

・温度範囲 高温側:~100℃
      低温側:0℃~


使用媒体:ガルデン

・温度範囲 高温側:70~200℃
      低温側:-65~0℃

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-750/MIL-STD-883
METHOD 107/METHOD 1056/METHOD 1011 等

気相熱衝撃試験

目的 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
媒体に空気を使用します。
方法 使用媒体:空気

・温度範囲 高温側:60~200℃
      低温側:-70~0℃

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-750/MIL-STD-883
METHOD 107/METHOD 1056/METHOD 1011 等

PIND

目的 中空ケース内部の異物有無を検査します。
方法
  • 発信:27Hz
  • 加振:3~5g

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-750/MIL-STD-883
METHOD 217/METHOD 2052/METHOD 2020 等

気密性試験

目的 中空ケースの機密性を試験します。
Heガスを用いたファインリーク試験とフロリナートを用いたグロスリーク試験を準備しています。
方法
  • ファインリーク試験
     トレーサーガス=He
     公称値:10-8 atm cm3/s
  • グロスリーク試験
     液体を用いた気泡確認試験
     公称値:10-5 atm cm3/s

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-883/METHOD 112/METHOD 1014 等

低温保存試験

目的 保存や稼動における耐久性を温度を下げて評価します。
方法
  • 温度設定可能範囲
    -55℃~+100℃
  • 槽内寸法
    600(W)×850(D)×600(H) mm

【設備】
PG-2G TabaiEspec製


高低温特性評価

目的 高温雰囲気、または低温雰囲気における製品の電気的特性の変動を評価します。
方法
  • 高温:~200℃
  • 低温:-60℃~

電気的特性についてはDC、RFそれぞれ対応できます。
評価製品にあわせて測定部を調整/作成する必要がありますのでまずはお気軽にご相談ください。


衝撃試験

目的 デバイスの運搬、使用等における衝撃に対する耐性を試験します。
方法
  • 最大加速度:2,000G
  • 波形:半正弦波

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-750/MIL-STD-883
METHOD 213/METHOD 2016/METHOD 2002
JEITA ED-4701 403A 等


*弊社提携の試験施設で試験実施します。お気軽にお問い合わせください。

振動試験

目的 振動によって生じるデバイスの電気的雑音量を測定します。
方法
  • 最大荷重:500kgf
  • 周波数範囲:5~4,500Hz
  • 最大加速度:100G
  • 最大振幅:20mmP-P(X/Y/Z)

【規定規格】
MIL-STD-202/MIL-STD-750/MIL-STD-883
METHOD 201/METHOD 2051/METHOD 2006
JEITA ED-4701 404A 等


*弊社提携の試験施設で試験実施します。お気軽にお問い合わせください。
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