半導体製造の中で培われた信頼性試験の技術でお客様の開発や品質維持向上をサポートします。ISO/TS内部試験所としての運用実績もあり、JIS、JEITA、JEDEC規格等の規定評価はもちろん、お客様のニーズに合わせた規格・条件での対応も可能です。
また、試験に付随する治工具の作成やサンプルの外観・計測、電気的特性の測定なども、合わせて承ります。
まずは一度ご相談ください 。
| 評価名 | 略号 別称等 |
試験概要 | 対応規格 |
|---|---|---|---|
| 高温保存試験 | HTS | 保存や稼動における耐久性を温度を上げて短時間で評価します。 | ・JEITA ED-4701 ・JIS 60068-2 （IEC 60068-2) ・MIL-STD-202/750/883 そのほかの規格にも対応いたします。 |
| 高温高湿保存試験 | THS | 使用環境における湿度に対する耐久性を温度・湿度を上げて短時間で評価します。 | |
| 高温動作寿命試験 | HTOL | 稼動における耐久性を電圧・温度を上げて短時間で評価します。 | |
| 高温逆バイアス試験 | HTRB | 稼動における耐久性を電圧・温度を上げて短時間で評価します。 | |
| 高温順バイアス試験 | HTFB | 稼動における耐久性を電圧・温度を上げて短時間で評価します。 | |
| 高温高湿バイアス試験 | THB | 稼働中の湿度と電圧の相互作用による耐久性を温度・湿度・電圧を上げて短時間で評価します。 | |
| 温度サイクル | TC | 温度変化のある環境で使用する場合に対し、高低温の温度変化の繰り返しに対する耐久性を温度変化幅を大きくして短時間で評価します。 | |
| HAST | PCT PCBT |
高温高湿が特性劣化に与える影響を加速して評価します。 | |
| IRリフロー | － | 製品実装時の状況をシミュレーションします。 |
JIS、JEITA等の規格規定評価はもちろん、規格外評価、
試験途中の条件変更などにも対応いたします。まずは一度ご相談ください 。
評価項目詳細
高温保存試験（ＨＴＳ）
| 目的 | 保存や稼動における耐久性を温度を上げて短時間で評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 恒温恒湿槽を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
高温高湿保存試験（ＴＨＳ）
| 目的 | 使用環境における湿度に対する耐久性を温度・湿度を 上げて短時間で評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 恒温恒湿槽を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
高温動作寿命試験（ＨＴＯＬ）
| 目的 | 稼動における耐久性を電圧・温度を上げて 短時間で評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 恒温槽を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
高温逆バイアス試験（ＨＴＲＢ）／高温順バイアス試験（ＨＴＦＢ）
| 目的 | 稼動における耐久性を電圧・温度を上げて 短時間で評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 恒温槽を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
高温高湿バイアス試験（ＴＨＢ）
| 目的 | 稼働中の湿度と電圧の相互作用による 耐久性を温度・湿度・電圧を上げて短時間で 評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 恒温槽を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
温度サイクル（ＴＣ）
| 目的 | 温度変化のある環境で使用する場合に対し、高低温の温度変化の繰り返しに対する耐久性を温度変化幅を大きくして短時間で評価します。 |
|---|---|
| 方法 | 温度サイクル試験機を用いて規定のサイクル数試験を実施します。
|
| 設備 |
|
ＨＡＳＴ（ＰＣＴ、ＰＣＢＴ）
| 目的 | 高温高湿が特性劣化に与える影響を加速して評価します。 |
|---|---|
| 方法 | PCT試験機を用いて規定の時間試験を実施します。
|
| 設備 |
|
ＩＲリフロー
| 目的 | 製品実装時の状況をシミュレーションします。 |
|---|---|
| 方法 | ＩＲリフローシミュレーターを用いて規定の温度、回数、熱ストレスを印加します。
事前に条件をご連絡いただければ、より早く温度プロファイルを作成することができます。 |
| 設備 |
|
